研制动力:技术需求

液晶屏缺陷检测装备是集光、机、电于一体的高技术装备,目前我国面板制造企业所用高端缺陷检测设备均为以色列、韩国、日本等国的进口设备,售价居高不下,使用、维护成本过高

我国面向液晶屏缺陷检测装备的研发、制造企业数量呈逐年快速递增趋势,但大部分企业缺少核心技术,在检测效率、检测准确性、对工艺缺陷的分析等方面与国外先进技术存在较大差距,难以满足我国市场需求

研制动力:行业需求

显示终端作为信息显示和传播的媒介已成为人类不可或缺的工具,已经被应用到各种各样的场合,比如手机、车载、电视、相机以及较前沿的智能手表、VR眼镜等。

良品率检测是显示器件生产的必备环节。观察发现,大量元器件集中在极薄的面板区域,不同的基层,不同器件都会对上层显示起到影响作用,这也是液晶面板容易产生缺陷的主要原因。

• 细微单像素点缺陷(面积约0.01)

• 单像素宽度线缺陷(宽度约0.1)

项目研究内容

利用先进的机器视觉技术,针对TFT-LCD、OLED屏幕生产制程中产生的各类表面缺陷(点缺陷、线缺陷、 Mura 缺陷、污渍)进行自动检测、分类及定位,完成高可靠性、快速的表面缺陷检测解决方案的研发。

LCM模组人工半自动点灯检测设备

HEO-PI

利用先进的机器视觉技术,针对TFT-LCD、OLED屏幕生产制程中产生的各类表面缺陷(点缺陷、线缺陷、 Mura 缺陷、污渍)进行自动检测、分类及定位,为客户提供高可靠性、快速的表面缺陷检测解决方案,实现自动化、高效化生产。设备采用双工位转盘式结构,体积小,最佳率配置;检测精度高,最小分辨缺陷精度可达到10um以下。

功能描述

设备可应用于中小屏幕TFT-LCD 3-7寸Cell、Open Cell、LCM模组各类表面缺陷进行电测,广泛应用于手机/平板/车载/VR/穿戴等消费电子产品。设备采用2900万高分辨、高信噪比主相机准确取像,利用我公司独特的软件算法将图像背景与缺陷分离。设备总体采用模块化设计,便于组装、操作及维护。检测精度已经超过人眼的检测质量水平,并能够提供更高的检测效率。

全自动cell缺陷检测设备

设备优势

设备采用模块化设计,提高设备使用的灵活性;

兼容性广,可兼容生产3寸~8寸的CELL产品;

定位精度高,采用视觉定位模式替代传统机械定位模
,满足更薄的产品定位功能;

生产效率高,可实现每小时生产800pcs以上;

智能化程度高,整机采用连线式全自动生产;/p>

设备具备整线系统连接功能,可满足CIM系统或其他生
产管理系统的信息交互。

功能

主要对接产线自动上料、产品自动纠偏定位、产品自动
连接点亮、画面自动检测(AOI)、OK/NG自动判定、
OK/NG自动储料等功能。

性能指标

设备生产对象:CELL

设备兼容尺寸:3寸-8寸 触点在短边

设备生产节拍:≤4.5 S/PCS

设备平均漏检率:≤0.35%

设备平均虚警率:≤5%

设备稼动率:≥ 95%

设备使用电压:AC220V/50Hz

设备使用气压:0.5-0.7 MPA

工作环境温度:5℃-40℃

平台重复定位精度:±0.02mm

操作人数:1人维护

LCM模组在线全自动点灯检测设备

功能描述

主要实现对接产线LCM自动上料、LCM自动定位、FPC
连接器自动对位连接、LCM自动点亮、画面自动检测
(AOI)、OK/NG自动判定输出、检测报告自动输出等
功能。

性能指标

设备生产对象: LCM

设备兼容尺寸:3寸-8寸(全贴合液晶模组)

设备生产节拍:≤4.5S/PCS

设备平均漏检率:≤0.35%

设备平均虚警率:≤8%

设备稼动率:≥ 95%

设备使用电压:AC220V/50Hz

设备使用气压:0.4-1.0 MPA

工作环境温度:5℃-40℃

平台重复定位精度:±0.02mm

设备优势

检测精度达到行业领先水平,最小检测缺陷尺寸0.02mm,可检测分辨率2K以上的超高清屏幕(理论上可扩展到4K屏幕);

检测缺陷种类多,包括CELL、背光、POL以及TP等100多种不良缺陷;

具备智能过滤产品表面的干扰功能(如灰尘、脏污、保护膜等);

具备学习功能,通过不断采集缺陷种类,从而实现检测功能的优化和提升。